產品查詢banner
  • 您的位置:首頁  >  技術資料  

掃描電鏡(SEM)

?掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope),簡稱掃描電鏡(SEM)。是一種利用電子束掃描樣品表麵從而獲得樣品信息的電子顯微鏡。它能產生樣品表麵的高分辨率圖像,且圖像呈三維,掃描電子顯微鏡能被用來鑒定樣品的表麵結構。SEM在導電樣品和非導電樣品的結構研究中有重要意義,並在不同的科學領域中有著廣泛的應用。

   SEM常用金、鉑、銀等靶材噴一層薄膜,進行導電處理,來降低樣品荷電現象,以提高圖像質量,保持樣品真實的表麵形貌特征。

   AG亚游电游新材提供多種規格的SEM用的金、鉑、鈀、銀等靶材,部分產品如下:


商品編碼

商品名稱

常規型號

Au11474

高純金 靶材 99.99%

φ57*0.1mm;φ57*0.2mm

Au11460

高純金 靶材 99.99%

φ58*0.12mm;φ58*0.2mm

Pt11457

高純鉑 靶材 99.99%

φ57*0.1mm;φ57*0.2mm

Pt11460

高純鉑 靶材 99.99%

φ58*0.12mm;φ58*0.2mm

Ag11461

高純銀 靶材 99.99%

φ57*0.1mm;φ57*0.2mm

Cu11489

高純銅 靶材 99.99%

φ58*0.12mm;φ58*0.2mm

Ni11591

高純鎳 靶材 99.995%

φ57*0.1mm;φ57*0.3mm

 

QQ圖片20150422160253.pngQQ圖片20150422160858.pngQQ圖片20150422160339.png

 

 

 

在線谘詢
服務熱線:
400-690-6700